同期相关面板数据退势单位根检验的小样本性质

白仲林
(吉林大学数量经济研究中心、天津财经大学)
【摘要】本文基于SUR回归将时间序列的两种单位根检验(ADF-GLS检验)
推广到面板数据,得到了同期相关面板数据退势单位根检验,称为SUR-ADF-
GLS检验。通过蒙特卡洛试验研究发现, SUR-ADF-GLS检验具有良好的小样
本性质。并且, SUR-ADF-GLS检验关于面板数据的同期相关性结构存在着较
强的“依存性”。
关键词　面板单位根检验　SUR-ADF-GLS检验　小样本性质　蒙特卡洛模拟
中图分类号　F224　　文献标识码　A
The Finite Sample Properties of
De-trending /De-meaning Unit Root
Tests to Contemporaneous Correlative Panel Data
　　Abstract:In this paper, unit root tests ADF-GLS of time series are general-
ized to contemporaneous correlative panel data by seemingly unrelated regression,
they are referred to as SUR-ADF-GLS tests·With Monte Carlo simulations, it is
found that SUR-ADF-GLS tests have some good finite sample properties and are
in dependence on contemporaneous correlative structure of panel data·
Key words:Panel Unit Root; SUR-ADF-GLS Test; Finite Sample Proper-
ty; Monte Carlo Simulation
随着经济现象的复杂化和经济学理论研究的深化,单纯应用截面数据或时间序列数据来
检验经济理论、寻找经济规律和预测经济变量存在着一定的不足。为了进一步发挥计量经济
学的作用,进入21世纪以来,经济学家在研究经济增长收敛理论、汇率决定理论、国际贸
易流量决定和国际R&D溢出等理论中广泛应用动态面板数据的计量经济模型。为了避免动
态面板数据模型估计中存在的“虚假回归”问题,面板数据单位根检验理论方法及其应用研
究成为了非经典计量经济学的重要研究内容之一。