面板模型
　微观计量经济学是计量经济学发展最快的领域之一，它涵盖的内容包括离散选择模型、面板数据模型、社会试验方法、计数数据（Count Data）模型、久期（Dura-tion）模型、分层（Stratified）与聚类（Clustered）样本模型、托比（Tobit）模型、样本选择（Sample Selection）模型等，其中面板数据模型的应用范围相当广泛，涵盖了诸多计量模型，这也是我们本书讨论的核心内容，下面我们来简单回顾其发展历程。
　　1986年，萧政（Hsiao Cheng）出版了第一本《面板数据分析》，同时期有29项研究涉及这一个关键词：“面板数据（Panel Data）或纵列数据（Longitudinal Data）”。根据社会科学文献索引指数（SSCI），截至2003年，有580篇研究，到2004年达到了687篇。自从贝尔斯特拉（Balestra）和纳洛夫（Nerlove）于1966年发表了一篇研讨会议论文以来，对面板数据这一新的计量分析工具的应用取得了快速的发展。国际上已经成立了专门研究Panel Data的协会，每两年举办一次全球学术交流大会，与会者都是从事Panel Data的经济学家、计量经济学家、统计学家和社会学家，大会强调除了在计量经济学领域外，要扩展其应用领域，以发现新的分析方法和研究领域，特别强调在社会学、经济学包括金融学，以及医学中的应用。2007年7月在中国厦门大学举办了第l4届国际面板数据大会，大会的主题发言代表了当前面板数据研究所取得的令人振奋的最新进展①，再次表明了这一分析工具的重要地位和国际影响力，也必将对中国面板数据模型的应用起到积极的推动作用。